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GB/T 47239.9-2026
中文名称：半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第9部分：一晶体管一电阻式（1T1R）电阻存储单元性能测试方法
英文名称：Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 9: Performance testing methods of one transistor and one resistor (1T1R) resistive memory cells
| 中国标准分类(CCS)： | L55 |
| 国际标准分类(ICS)： | 31.080.99 |
| 发布日期： | 2026-02-27 |
| 实施日期： | 2026-09-01 |
| 页数： | 0 |
| 标准状态： | 未实施 |
| 标引依据： | 2026年第9号 |
| 点击数： | 0 |
| 更新日期： | 2026-03-06 |
| 适用范围： |
浙公网安备 33020902000221号
